一、光学实验平台的表面粗糙度（Surface Roughness）：

    有部分厂家，在光学平台的指标中，标称表面粗糙度的概念，往往存在一些误导。标准GB/T3505-2000 中规定了评定表面粗糙度的各种参数，其中常用的是轮廓算术平均偏差Ra。轮廓算术平均偏差Ra 是指在取样长度内，沿测量方向(z 方向) 的轮廓线上的点与基准线之间距离值的算术平均值。

    若只标称Ra 的数值，但并未公布取样长度，这样的数值标称变得毫无意义，而且有误导消费者的可能。比如说，标称表面粗糙度为：0.5 ～ 0.8μm，但若取样长度分别为10mm、1mm 和0.1mm，实际上表面粗糙度的差别可达百倍！根据GB1031 的推荐值：取样长度若取0.25mm 时，精密及超精密加工表面的表面粗糙度Ra ＞ 0.02 ～ 0.1μm ；当取样长度取0.8mm 时，普通精加工表面Ra ＞ 0.1 ～ 2μm。

    根据上述说明，取样长度为0.8mm，表面粗糙度为0.5 ～ 0.8μm 时，表面加工精度属于一般水平。另外，表面粗糙度通常是评定（小型）零件表面质量的指标，属于微观几何形状误差。加工表面的粗糙度是加工过程中多种因素( 机床刀具工件系统、加工方法、切削用量、冷却润滑液) 共同作用的结果。这些因素的作用过程相当复杂，而且是不断变化的。

    所以用不同加工方法或在同样加工方法、同样加工条件下加工出来的同一批零件，不同表面不同部位其粗糙度值也不完全相同。而且同上面介绍的平面度概念一样，它同光学平台的隔振效果没有关系，卓立及国外厂商的光学平台并未标称表面粗糙度的指标。

二、光学实验平台的平面度（Surface Flatness）：

    光学实验平台的平面度，通常是指单位面积内，被测实际表面相对其理想平面的变动量。通常国外光学平台的平面度指标为：±0.1mm/600mm×600mm，卓立的光学平台，通过精密磨削工艺，将平面度指标提高到0.02 ～ 0.05mm/600mm×600mm。

    但严格意义上来说，光学平台平面度，对于隔振性能，没有任何影响，甚至若为了追求高平面度，往往会牺牲掉光学平台的隔振性能，原因如下：

①光学平台台面，若为达到高平面度，通常需要反复磨削，在加工过程中，多次磨削容易使材料产生形变，为了减少形变，通常要加厚台面，但我们通过振动恢复时间的说明已经知道，台面加厚质量增加，平台的振动恢复时间往往成倍（甚至几倍）增加，在很多精密光学实验中，这是不可接受的；

②光学实验平台的的磨削是有极限的，这个加工的极限一般是在±0.01mm/600mm×600mm左右，换算成平方米大约为：±0.03mm/m2，但这个平面度，同大理石平台的平面度相差甚远。大理石平台根据平面度指标一般分为：000级（平面度≤3μm/m2）、00级（平面度≤5μm/m2）、0级（平面度≤10μm/m2）。换句话说，平面度zui好的光学平台，同zui低等级的大理石平台相比，平面度还差数倍甚至一个数量级，所以若您需要高平面度的台面，强烈建议您选购大理石平台；

③光学实验平台的的平面度在使用时，实际意义不大。我们以平整的台面（实际上是不可能的）来看，若长×宽×厚为：2000×1000×200mm，通常调整水平时，水平仪的zui小刻度为±30′，若假设实际过程中，水平方向调整精度若为5′，长度方向取2000mm，那么，台面长度方向两端的高度差=2000×tan（5′）2.9mm，也就是说，就算平整的台面，调整水平后，台面长度方向两端的高度差很有可能达到3mm，所以实际使用情况中，平面度的指标意义不大；

④对于平台上的光学元件来说，平面度引起的高度差，通常可以忽略不计，若确有必要考虑高度差，则完全可以通过卓立精密调整的位移台来实现。

   综上所述，光学实验平台的平面度，同光学平台的隔振性能不相关，只能做为光学平台的一个辅助指标，供参考。